ギャラリー

設備・装置

●高圧反応速度測定装置

（活性種の寿命が数ミリ秒～数十秒のものの測定に使用）

●高圧反応速度測定装置

（活性種の寿命が数十秒以上のものの測定に使用）

●高圧容器（光高圧（株）製）

●紫外可視分光光度計　(Perkin Elmer Lambda 19、島津UV-2500PC)

●フーリエ変換赤外分光光度計（Perkin Elmer Paragon 1000、Mattson）

●ガスクロマトグラム（Yanaco G-180）

●グローブボックス（高杉製作所）

●全偏光対応型キラリティ分光計（特注分光計JASCO J-1500ベース）

円二色性（透過、拡散反射）、蛍光検出円二色性などが測定可能

●非溶液対応型円二色性＆円偏光蛍光分光計（J-720CPLベース；日本分光共同開発）

基底および励起状態のキラリティの情報を与えてくれる。非溶液状態の試料の偏光解析も可能。

●非溶液対応型円二色性分光計（特注分光計JASCO J-1500ベース）

基底状態のすべての偏光現象（CD,　CB, LD, LB）測定。非溶液状態試料の偏光解析も可能。
測定波長領域：160 nm ～1600 nm（紫外可視：PM-539,　近赤外：InGaAs）

●透過・拡散反射兼用UV-Vis分光計（V-550, ISV-469）

測定波長領域：190 nm ～900 nm (拡散反射：220 nm ～850 nm)

●透過型UV-Vis分光計（V-730）

測定波長領域：190 nm ～1100 nm

●FT-IR（JASCO FT-IR470Plus）

測定波長領域：400 cm-1 ～4000 cm-1

●光導波路分光計（System Instrument, SIS-50T）

透過測定で測定が難しい試料が測定可能：高濃度試料、単分子膜などの薄膜等
測定波長領域：190 nm ～700 nm

●蛍光分光光度計（JASCO FP-8300）upconversion発光計測システム付属（自作）

可変半導体レーザー（100-1000 mW/cm2, SDL-980-LM-XXXTL）付属
ペルチェ温調素子付属（ETC-815温度範囲：0-100 ºC）
測定波長領域：200 nm ～750 nm

●ロックインアンプ（Stanford Research Systems SRS830）

●オシロスコープ（IWATSU　SS-7802A）

●遠心分離機（KUBOTA　3520）